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半圓試塊

簡要描述:SH-1半圓試塊可調整探測范圍,測定儀器的水平線性、垂直線性和動態范圍,測定斜探頭的入射點、折射角及調整探傷靈敏度。

  • 產品型號:SH-1
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2022-06-12
  • 訪  問  量:1405

詳細介紹

品牌其他品牌價格區間面議
產地類別國產應用領域化工,石油,能源,交通,電氣

SH-1半圓試塊

產品介紹:

SH-1半圓試塊可調整探測范圍,測定儀器的水平線性、垂直線性和動態范圍,測定斜探頭的入射點、折射角及調整探傷靈敏度。

試塊參數尺寸:

637764745177321467125.png

GB/T 11344-2008
《無損檢測 接觸式超聲脈沖回波法測厚方法》

4A階梯: 6.25~25mm

480


4B試塊: 5~20mm

480


4 階梯: 0.25-1.00 英寸

480

美國常規試塊

5A 試塊:2.5~12.5mm

540


5B 試塊:2~10mm

540


5 階梯: 0.1-0.5 英寸

540

美國常規試塊

7A 階梯: 3~48mm

680


7B 階梯: 1~10mm

680


GB/T18852-2002《測量接觸探頭聲束特性的參考試塊和方法》

半圓階梯試塊(HS 試塊)

1600


橫孔試塊(SDH 試塊)

1340












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